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项目负责人、康奈尔大学达菲尔德工程学院塞缪尔·B·埃克特工程学教授戴维·穆勒表示："鉴于目前缺乏其他观测此类缺陷原子结构的手段，这项技术将成为芯片调试与故障排查的关键表征工具，尤其在研发阶段具有重要意义。"
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